本發(fā)明公開一種磁光光致發(fā)光光調制反射和光調制透射光譜聯(lián)合測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括寬波段紅外光源和傅立葉變換部件、具有紅外光學窗口的低溫強磁場系統(tǒng)、用于寬波段光入射和收集的反射/透射光路子模塊、泵浦/調制兩用的交流輸出激光器及其引導光路、計算機控制的多功能光譜測試切換部件、光譜信號探測與解調模塊、以及控制系統(tǒng)運行的計算機。本發(fā)明能夠針對
半導體材料的同一特定光斑位置實現(xiàn)磁光光致發(fā)光、光調制反射和光調制透射的聯(lián)合測量,形成材料不同磁場光譜特性的可靠比對。本發(fā)明具有全面、無損和高靈敏優(yōu)點,非常適用于半導體光學性質、電子結構和磁效應特性的光譜學檢測。
聲明:
“磁光光致發(fā)光光調制反射和光調制透射光譜聯(lián)合測試系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)