本發(fā)明公開了微波表面電阻連續(xù)頻譜測試裝置,包括固定介質(zhì)柱和移動(dòng)介質(zhì)柱;所述固定介質(zhì)柱設(shè)置于待測超導(dǎo)薄膜上,且移動(dòng)介質(zhì)柱連續(xù)運(yùn)動(dòng)并與固定介質(zhì)柱產(chǎn)生相對(duì)位移,使得移動(dòng)介質(zhì)柱和固定介質(zhì)柱之間電磁場變化。本發(fā)明微波表面電阻連續(xù)頻譜測試裝置,通過將固定介質(zhì)柱和移動(dòng)介質(zhì)柱進(jìn)行相對(duì)位移,實(shí)現(xiàn)了諧振頻率的連續(xù)變化從而測得樣品微波表面電阻的連續(xù)頻率譜特性,實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確連續(xù)無損的檢測。
聲明:
“微波表面電阻連續(xù)頻譜測試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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