公開了一種太赫茲頻段RCS測量用支架材料的選取方法,包括:選取M種泡沫材料作為測試樣品;對于選取的每種泡沫材料,通過太赫茲時域光譜測量系統(tǒng)測量未放置測試樣品時的時域光譜Er, i(t)、以及放置測試樣品時的時域光譜Es, i(t);對Er, i(t)、Es, i(t)進(jìn)行傅里葉變換,以獲取頻域光譜Er, i(w)、Es, i(w);然后,根據(jù)Er, i(w)、Es, i(w)、以及泡沫材料的厚度di,計算該泡沫材料的折射率譜ni(w);對于選取的每種泡沫材料,計算其折射率譜的折射率均值以及的值,并且,將取最小值的泡沫材料作為太赫茲頻段RCS測量用支架材料。本發(fā)明通過太赫茲時域光譜技術(shù),便于快速、無損的分析材料的電磁散射特性,進(jìn)而在樣品中迅速找到適用于太赫茲頻段RCS測量的支架材料。
聲明:
“太赫茲頻段RCS測量用支架材料的選取方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)