本發(fā)明公開(kāi)一種SMD5032晶體振蕩器振動(dòng)試驗(yàn)下電性能監(jiān)測(cè)實(shí)現(xiàn)裝置和方法，用于解決現(xiàn)有SMD7050封裝晶體振蕩器產(chǎn)品振動(dòng)試驗(yàn)下電性能監(jiān)測(cè)裝置無(wú)法測(cè)試SMD5032封裝晶體振蕩器問(wèn)題，該裝置包括固定部件、裝置主體和底座，固定部件包括金屬壓條和固定螺絲，裝置主體包括測(cè)試座、控制電路模塊、印制板、電路板電源線、電路板邏輯控制線和電路板頻率輸出電纜線，測(cè)試座和控制電路模塊安裝在印制板上，金屬壓條通過(guò)固定螺絲將裝置主體固定在底座上。本發(fā)明還提供一種監(jiān)測(cè)方法。本發(fā)明可以對(duì)SMD5032封裝晶體振蕩器振動(dòng)狀態(tài)下進(jìn)行無(wú)損傷的、精確的電性能監(jiān)測(cè)，具有測(cè)試無(wú)損傷、測(cè)試穩(wěn)定性好、操作快捷方便、測(cè)試效率高等特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)。