本發(fā)明提供一種利用電磁倏逝波輻照度的脈沖響應(yīng)時間測量介質(zhì)損耗的方法，包括步驟：1）在預(yù)先給定頻率范圍的電磁波內(nèi)確定待測介質(zhì)折射率的實部，并把該待測介質(zhì)定義為光疏介質(zhì)；2）尋找折射率已知并且折射率實部大于待測介質(zhì)的光密介質(zhì)，并把光密介質(zhì)和待測介質(zhì)構(gòu)成全反射系統(tǒng)；3）用預(yù)先給定頻率范圍的電磁波從光密介質(zhì)向待測介質(zhì)入射，并調(diào)節(jié)入射角度，使電磁波在光密介質(zhì)和待測介質(zhì)的界面處發(fā)生全反射，并在待測介質(zhì)內(nèi)部產(chǎn)生倏逝波；4）調(diào)節(jié)上述入射電磁波的功率，使之產(chǎn)生很小的脈沖，同時測量倏逝波的輻照度對該脈沖的響應(yīng)時間；根據(jù)該脈沖響應(yīng)時間來計算待測介質(zhì)折射率的虛部。該測量方法不僅能無損反復(fù)進行，還可實現(xiàn)超高精度的測量。