本發(fā)明提供了一種測量葉片面積的方法以及裝置,該方法包括獲取待測葉片的第一圖像信息;根據(jù)所述第一圖像信息自動調(diào)整參數(shù)后,獲取所述第一圖像信息中所述純色矩形背景板的四條邊的線性方程;基于所述線性方程,得到所述純色矩形背景板的四個頂點的位置信息;將所述第一圖像信息進(jìn)行仿射變換,使得所述四個頂點與預(yù)先生成的標(biāo)準(zhǔn)圖像的四個頂點匹配,得到第二圖像信息;獲取所述待測葉片在所述第二圖像中的面積,并基于所述第二圖像信息,所述待測葉片在所述第二圖像中的面積以及所述第一圖像信息,得到所述待測葉片的面積。通過該方法,能夠保證測量過程中葉片無損,且測量過程不受場地的限制,也無需進(jìn)行標(biāo)定。
聲明:
“測量葉片面積的方法以及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)