基于時間相關(guān)單光子計數(shù)技術(shù)的半透明材料輻射物性測量方法,涉及材料物性測量技術(shù)領(lǐng)域。它是為了解決傳統(tǒng)輻射物性參數(shù)的測量物件測量過程中存在信噪比低、動態(tài)范圍小的問題。本發(fā)明可以同時測量多個輻射物性,穩(wěn)定性同比提高了20%,可用于航空航天、生物醫(yī)療、燃燒診斷、光學(xué)探測及無損探傷等工程領(lǐng)域。時間相關(guān)單光子計數(shù)技術(shù)是一種具有高時間分辨率可用于極微弱光信號探測的技術(shù),單光子計數(shù)器具有受探測器不穩(wěn)定因素的影響小、信噪比高、動態(tài)范圍寬、設(shè)備便宜以及可以輸出數(shù)字信號便于數(shù)據(jù)處理等優(yōu)點。本發(fā)明適用于材料物性測量技術(shù)領(lǐng)域。
聲明:
“基于時間相關(guān)單光子計數(shù)技術(shù)的半透明材料輻射物性測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)