本發(fā)明提供一種
芯片的供電測試治具,包括:芯片底座,所述芯片底座上設(shè)有多個芯片限位槽和芯片限位擋臺,所述芯片限位槽與芯片限位擋臺連接,所述芯片限位槽內(nèi)設(shè)有芯片,所述芯片限位槽和所述芯片限位擋臺相互配合對芯片進(jìn)行限位,所述芯片上設(shè)有電路板,且所述芯片與所述電路板可拆卸式電連接以能夠?qū)崿F(xiàn)對芯片的供電測試;這樣不僅在芯片的供電測試過程中實(shí)現(xiàn)了對芯片的無損限位,更避免了在測試過程中探針對芯片表面焊盤測試定位難和劃傷芯片表面焊盤的技術(shù)問題,提高了生產(chǎn)效率的同時(shí)還降低了生產(chǎn)成本。
聲明:
“芯片的供電測試治具” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)