本發(fā)明公開了一種基于S變換的結構光三維面形垂直測量方法,其進行一次掃描測量即可同時利用S變換取脊和S變換濾波兩種方法獲得各條紋圖調(diào)制度值的分布從而實現(xiàn)三維面形的測量。本發(fā)明所述的S變換是一種無損、可逆的時頻分析方法,與小波變換相比,S變換取脊方法不僅具有多分辨率的特點,其變換系數(shù)還與該信號的傅里葉頻譜有著直接的聯(lián)系,可獲得比小波變換更為精確的調(diào)制度值;與傅里葉變換相比,S變換濾波方法采用高斯窗函數(shù)且窗寬與頻率的倒數(shù)成正比,改善了窗寬固定的缺陷,具有良好的時頻分析特性,能更完整地保留被測物體的細節(jié)部分。通過本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術中無法精確地重建被測物體的三維面形的問題,提高了測量精度。
聲明:
“基于S變換的結構光三維面形垂直測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)