本發(fā)明公開了一種基于環(huán)境匹配的機電阻抗損傷監(jiān)測的分類方法,包括:獲得結(jié)構(gòu)的電導(dǎo)納信號;將電導(dǎo)納信號分解為實部和虛部信號存入基線數(shù)據(jù)集,分別將不同溫度下?lián)p傷后的電導(dǎo)納信號存入對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)組;計算基線數(shù)據(jù)集、測試數(shù)據(jù)組的相關(guān)系數(shù);獲得測試數(shù)據(jù)組對應(yīng)的實部信號;導(dǎo)入互相關(guān)函數(shù)計算結(jié)構(gòu)的損傷診斷指數(shù);并在基線數(shù)據(jù)集中查找與每組測試數(shù)據(jù)最接近的兩組基線數(shù)據(jù);其中一組基線數(shù)據(jù)實部信號的互相關(guān)函數(shù)的最大值作為損傷診斷指數(shù),并將兩組基線數(shù)據(jù)實部信號的互相關(guān)函數(shù)的最大值作為損傷的判斷閾值,從而對結(jié)構(gòu)的損傷進(jìn)行分類。本發(fā)明可對溫度變化狀態(tài)下的
復(fù)合材料結(jié)構(gòu)件進(jìn)行無損損傷監(jiān)測,減少由溫度變化而引起的虛假警報。
聲明:
“基于環(huán)境匹配的機電阻抗損傷監(jiān)測的分類方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)