本發(fā)明公開了一種基于調(diào)制弱值放大技術(shù)的相位分布測(cè)量裝置及方法,該相位分布測(cè)量裝置設(shè)置有系統(tǒng)前選擇態(tài)單元、第一相位補(bǔ)償單元、系統(tǒng)后選擇態(tài)單元,本發(fā)明主要基于標(biāo)準(zhǔn)量子弱值放大技術(shù),以光偏振作為量子系統(tǒng)自由度,采用相位補(bǔ)償策略,通過設(shè)置合適的第一相位補(bǔ)償單元和系統(tǒng)后選擇態(tài)單元,可對(duì)一個(gè)波長(zhǎng)以內(nèi)的任意相位實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量,是一種新型的、無損的直接光學(xué)傳感測(cè)量技術(shù),適用于生物醫(yī)學(xué)、分析化學(xué)、材料學(xué)等多個(gè)技術(shù)領(lǐng)域的相位高精度測(cè)量及成像分析,具有重要應(yīng)用價(jià)值。
聲明:
“基于調(diào)制弱值放大技術(shù)的相位分布測(cè)量裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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