本發(fā)明涉及一種基于聲發(fā)射信號(hào)光學(xué)工件亞表面損傷深度預(yù)測(cè)方法,該方法的步驟為:建立光學(xué)工件亞表面損傷深度與聲發(fā)射信號(hào)關(guān)系模型;表面損傷深度與聲發(fā)射信號(hào)關(guān)系模型常數(shù)標(biāo)定;用聲發(fā)射信號(hào)進(jìn)行亞表面損傷深度在線預(yù)測(cè)。本發(fā)明成本低廉,并且能夠快速、準(zhǔn)確、無損地預(yù)測(cè)亞表層裂紋的擴(kuò)展深度,通過優(yōu)化加工工藝參數(shù)達(dá)到降低加工成本及縮短后續(xù)拋光加工時(shí)間的目的。
聲明:
“基于聲發(fā)射信號(hào)光學(xué)工件亞表面損傷深度預(yù)測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)