本發(fā)明公開(kāi)了一種基于遺傳算法的超聲傳感器陣列參數(shù)的分析方法，用于對(duì)GIS殼體焊縫內(nèi)部缺陷進(jìn)行檢測(cè)，屬于無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域。該方法以全聚焦成像法則為目標(biāo)函數(shù)，通過(guò)遺傳算法對(duì)超聲傳感器陣列的中心頻率和孔徑尺寸進(jìn)行優(yōu)化。該方法的優(yōu)勢(shì)在于通過(guò)與優(yōu)化算法相結(jié)合對(duì)超聲傳感器陣列參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化，可以在全局范圍內(nèi)找出最佳的檢測(cè)參數(shù)組合，克服以往根據(jù)經(jīng)驗(yàn)來(lái)多次調(diào)整陣列參數(shù)，且未必得到最優(yōu)的陣列參數(shù)下的檢測(cè)結(jié)果。由于焊縫中缺陷要比各向同性材料中的缺陷檢測(cè)難度大，通過(guò)該方法找到最優(yōu)的檢測(cè)參數(shù)，更有利于焊縫內(nèi)缺陷的檢出；因此，此方法具有很強(qiáng)的實(shí)用性，并可提高GIS殼體焊縫內(nèi)部缺陷的檢出率。