本發(fā)明涉及一種用于裂紋方向識(shí)別的超聲散射系數(shù)優(yōu)化計(jì)算方法，屬無損檢測(cè)領(lǐng)域。本發(fā)明利用超聲相控陣檢測(cè)系統(tǒng)，采集裂紋缺陷的全矩陣數(shù)據(jù)，首先利用采集到的數(shù)據(jù)對(duì)缺陷進(jìn)行全聚焦成像確定其位置，然后計(jì)算裂紋缺陷的散射系數(shù)空間分布，確定裂紋的角度。其中子陣列包含的晶片個(gè)數(shù)、相鄰子陣列間隔晶片數(shù)對(duì)裂紋角度的測(cè)量精度影響較大。本發(fā)明利用多個(gè)評(píng)價(jià)指標(biāo)評(píng)價(jià)不同子陣列包含的晶片個(gè)數(shù)、相鄰子陣列間隔晶片數(shù)時(shí)裂紋角度測(cè)量結(jié)果的優(yōu)劣，通過主成分分析法綜合評(píng)價(jià)測(cè)量結(jié)果，得到最佳測(cè)量結(jié)果，其對(duì)應(yīng)的參數(shù)——子陣列包含的晶片個(gè)數(shù)和相鄰子陣列間隔晶片即為最佳檢測(cè)參數(shù)。