本實(shí)用新型公開(kāi)了一種近紅外光譜分析裝置,包括光學(xué)系統(tǒng)和電路系統(tǒng),光學(xué)系統(tǒng)包括光源、透鏡組、第一準(zhǔn)直組件、樣品、聚光組件、第二準(zhǔn)直組件、光柵、CCD陣列;電路系統(tǒng)包括隔離電路、放大電路、A/D轉(zhuǎn)換、嵌入式微機(jī)、顯示屏。本實(shí)用新型近紅外光譜分析裝置,體積小攜帶方便;分析速度快、效率高,光譜的測(cè)量過(guò)程一般可在1min完成,可同時(shí)迅速地對(duì)樣品的多個(gè)組成或性質(zhì)進(jìn)行測(cè)定;近紅外區(qū)光散射效應(yīng)大,且穿透深度大,可實(shí)現(xiàn)在線無(wú)損檢測(cè);近紅外光譜分析只要采集到樣品的光譜信號(hào)即可,對(duì)環(huán)境不會(huì)造成任何污染,是綠色檢驗(yàn)方法,而且裝置成本較低。
聲明:
“近紅外光譜分析裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)