本申請(qǐng)涉及無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,公開(kāi)了一種超聲掃描設(shè)備及超聲掃描方法,該超聲掃描設(shè)備在現(xiàn)有的超聲探頭的前端處加裝低聲阻固定構(gòu)件以實(shí)現(xiàn)與待探測(cè)半導(dǎo)體元器件直接接觸,從而使得待探測(cè)半導(dǎo)體元器件脫離液體掃描環(huán)境,避免出現(xiàn)因液體的高聲阻導(dǎo)致超聲波信號(hào)衰減的情況,進(jìn)一步提高超聲成像效果。
聲明:
“超聲掃描設(shè)備及超聲掃描方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)