本發(fā)明公開一種應(yīng)用紫外可見漫反射光譜鑒別珍珠表層的化學(xué)組成及結(jié)構(gòu)形貌一致性的方法,通過對(duì)珍珠表面不同位置處進(jìn)行紫外可見漫反射光譜的檢測(cè)采集,并基于譜圖的一致性即相似度進(jìn)而判斷珍珠外層組織結(jié)構(gòu)單元即珍珠層化學(xué)組成、內(nèi)部結(jié)構(gòu)及外表面結(jié)構(gòu)形貌一致性。本發(fā)明所述的鑒別方法準(zhǔn)確、無損、快速,可為珍珠的改色處理、質(zhì)量等級(jí)定性提供便捷、適用的評(píng)判性依據(jù)與指導(dǎo)。
聲明:
“應(yīng)用紫外可見漫反射光譜鑒別珍珠表層的化學(xué)組成及結(jié)構(gòu)形貌一致性的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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