本發(fā)明公開一種弱吸收物體同步輻射X射線同軸相襯成像的相位恢復方法,包括如下步驟:采用同步輻射X射線同軸相襯成像法獲取弱吸收物體樣品的相襯數(shù)據(jù);按式I對獲取的相襯數(shù)據(jù)進行相位恢復,得到樣品的相位信息的空間分布,式I:其中,和分別代表傅立葉變換和逆傅立葉變換,代表空間坐標系,代表傅立葉空間坐標系,代表樣品到探測器的距離,代表入射X射線的波長,代表樣品的吸收和相位比率,代表樣品的投影光強分布,代表入射光強分布;對得到的相位信息的空間分布進行圖像重構。本發(fā)明方法可大幅提高弱吸收物體的空間分辨和密度分辨的探測能力,同時具有高信噪比,降低輻照劑量的特點,實現(xiàn)對弱吸收物體的微米級無損、高分辨三維成像。
聲明:
“弱吸收物體同步輻射X射線同軸相襯成像的相位恢復方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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