本發(fā)明公開了一種覆晶
芯片失效分析方法及電性定位中檢測樣品的制備方法,所述制備方法包括:提供待測的覆晶芯片,包括封裝基底與制備于封裝基底上的裸片,裸片的外部覆蓋有塑封體,裸片與封裝基底之間連接有金凸塊,封裝基底的底部焊接有錫球;研磨裸片外部的塑封體直至裸露出裸片的晶背;將裸片的背面結合到一玻璃基板上,玻璃基板上設有導電片;用封裝綁線將玻璃基板上的導電片與封裝基底底部的錫球電性連接,以得到檢測樣品。本發(fā)明覆晶芯片失效
分析檢測樣品的制備方法,通過研磨掉裸片的背面的塑封體,再將裸片的背面結合在玻璃基板上進行失效分析,不必腐蝕塑封體以及分離封裝基底與裸片,從而避免了取裸片的過程中金凸塊被腐蝕的可能性。
聲明:
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