本發(fā)明公開了一種電子產(chǎn)品失效分析系統(tǒng)及分析方法，屬于電子產(chǎn)品失效分析技術領域，包括產(chǎn)品信息獲取模塊和產(chǎn)品外觀比對分析模塊，所述產(chǎn)品信息獲取模塊的輸出端與產(chǎn)品外觀比對分析模塊的輸入端電性連接；本發(fā)明通過在系統(tǒng)內(nèi)部同時設置有外觀分析、測試分析與非破壞分析，可有效保證該系統(tǒng)對于產(chǎn)品失效分析的全面性與有效性，通過在該系統(tǒng)內(nèi)還設置有數(shù)據(jù)綜合處理模塊，可對于失效原因進行匯總分析，從而給出解決電子產(chǎn)品的失效原因的成本，同時可根據(jù)失效原因給出一些產(chǎn)品使用建議，從而可有效為電子產(chǎn)品的生產(chǎn)廠家提供有效的改善生產(chǎn)的理論依據(jù)，同時可給予用戶有效的避雷建議，從而有效降低電子產(chǎn)品使用時的失效率，提高了該系統(tǒng)的應用效果。
聲明：
“電子產(chǎn)品失效分析系統(tǒng)及分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業(yè)用途，請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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編輯：管理員
來源：中冶有色技術網(wǎng)
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2025年03月21日 ~ 23日 
