一種導(dǎo)體失效檢測(cè)結(jié)構(gòu)以及形成方法和檢測(cè)方法，所述檢測(cè)結(jié)構(gòu)包括：基底，所述基底具有核心器件區(qū)和外圍器件區(qū)，所述核心器件區(qū)的基底上具有分立的第一金屬層和待測(cè)金屬層，通過(guò)待測(cè)導(dǎo)電插塞相互連接；所述外圍器件區(qū)的基底上具有若干重疊排布的測(cè)試焊盤(pán)和若干加載焊盤(pán)并通過(guò)貫通介質(zhì)層內(nèi)的測(cè)試導(dǎo)電插塞和加載導(dǎo)電插塞進(jìn)行連接；在待測(cè)金屬層的同一層具有焊盤(pán)金屬層，所述焊盤(pán)金屬層通過(guò)測(cè)試導(dǎo)電插塞和加載導(dǎo)電插塞分別與測(cè)試焊盤(pán)、加載焊盤(pán)連接，所述焊盤(pán)金屬層通過(guò)至少兩個(gè)頂層導(dǎo)電插塞與第一金屬層連接。所述檢測(cè)結(jié)構(gòu)能夠在不破壞標(biāo)準(zhǔn)焊盤(pán)結(jié)構(gòu)以及不擴(kuò)大設(shè)計(jì)區(qū)域面積的情況下，提高電遷移檢測(cè)的準(zhǔn)確性。