本發(fā)明提供了一種汽車電子中接觸端子的失效分析方法,包括以下步驟:A、使用掃描電子顯微鏡對接觸端子樣品進行表面觀察;B、使用X射線特征粒子能量譜儀分析接觸端子樣品表面元素;C、使用X射線光電子能譜進行接觸端子樣品表面化合物官能團分析;D、制作接觸端子樣品為金相切片樣品;E、使用掃描電子顯微鏡和X射線特征粒子能量譜儀對制作好的金相切片樣品進行觀察分析;F、綜合分析以上步驟得出的結(jié)論,總結(jié)出接觸端子樣品失效的具體原因。本發(fā)明方法可快速判斷出接觸端子的質(zhì)量好壞以及失效的接觸端子的失效原因,可以有效規(guī)范汽車電子業(yè)界的技術(shù)人員進行關(guān)于接觸端子質(zhì)量分析的方法,同時也節(jié)省大量的分析成本。
聲明:
“汽車電子中接觸端子的失效分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)