本發(fā)明公開一種發(fā)光二極管失效分析解剖裝置,包括操作平臺、調(diào)溫加熱臺及體視顯微鏡;操作平臺設(shè)置加熱板,該加熱板與調(diào)溫加熱臺電連接,加熱板加熱發(fā)光二極管表面封裝膠體;操作平臺置于體視顯微鏡的視場范圍中。本發(fā)明還公開一種發(fā)光二極管失效分析解剖方法。本發(fā)明可以減少損傷LED
芯片,提高失效異常分析的準確性,同時提高LED芯片解剖效率。
聲明:
“發(fā)光二極管失效分析解剖裝置和解剖方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)