本發(fā)明公開了一種高集成型分析物檢測系統(tǒng),包括:底殼;探頭結(jié)構(gòu),探頭結(jié)構(gòu)與底殼互相卡合,探頭結(jié)構(gòu)包括探頭和探頭基座,探頭包括信號輸出端和檢測端,信號輸出端向靠近探頭基座的頂部表面的方向彎曲或彎折,信號輸出端表面至少設(shè)置兩個互相絕緣的第一電連接區(qū);和發(fā)射器,發(fā)射器與底殼互相卡合,發(fā)射器設(shè)置有與第一電連接區(qū)相對應(yīng)且互相絕緣的第二電連接區(qū),每個第二電連接區(qū)與對應(yīng)的第一電連接區(qū)電連接。內(nèi)部緊湊的結(jié)構(gòu)使檢測系統(tǒng)體積更小,增強了用戶體驗。
聲明:
“高集成型分析物檢測系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)