本發(fā)明提出一種SRAM存儲(chǔ)器空間服役故障分類失效檢測(cè)方法,本發(fā)明采用故障特征檢測(cè)診斷空間服役失效故障,通過(guò)分析特定核心器件在太空環(huán)境或異常環(huán)境中的特征參數(shù)電源電流的變化,依托神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行故障狀態(tài)的判斷和分類。本發(fā)明可用于監(jiān)控空間服役狀態(tài)SRAM存儲(chǔ)器的特征參數(shù),并在地面計(jì)算出SRAM存儲(chǔ)器故障失效概率。本發(fā)明可結(jié)合SRAM存儲(chǔ)器空間服役環(huán)境,確定故障失效的薄弱環(huán)境,可為空間SRAM存儲(chǔ)器長(zhǎng)壽命服役提供技術(shù)支持。
聲明:
“SRAM存儲(chǔ)器空間服役故障分類失效檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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