本發(fā)明涉及一種封裝后
電池片失效的檢測方法,具有如下步驟:a)根據(jù)組件的I-V曲線判斷組件異常類型,b)如果根據(jù)組件I-V曲線判斷,組件存在電流問題引起的異常,組件通過EL測試判斷疑似失效電池片的位置,測試疑似失效電池片以及相鄰電池片的電流,根據(jù)電流臨界值Im判測試過的電池片是否電流失效;c)如果根據(jù)組件I-V曲線判斷,組件存在電壓問題引起的異常,對組件中的每串進(jìn)行分段測量,找出電壓偏低的部分,找出電壓偏低的部分后逐片測試電壓偏低部分的電池片的電壓,根據(jù)電壓臨界值Vm判斷測試過的電池片是否電壓失效。本發(fā)明的有益效果是:根據(jù)客戶需求快速判斷電池封裝后的失效類型,保證組件電性能滿足客戶要求。
聲明:
“封裝后電池片失效的檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)