本發(fā)明提供一種芯片指令高速緩存失效的檢測方法，所述方法為：1、在芯片指令高速緩存中預設復數(shù)個最小指令單元，2、根據(jù)宏函數(shù)的遞歸性，逐級創(chuàng)建宏函數(shù)單元，各級宏函數(shù)單元包裹有最小指令單元，且每一級宏單元不斷的包裹前一級宏單元構成了一大函數(shù)，3、CPU內(nèi)的邏輯運算單元ALU從高速緩存中獲取大函數(shù)中所有的最小指令單元的指令進行執(zhí)行，邏輯運算單元ALU訪問高速緩存的每個比特，大函數(shù)中的指令會依次執(zhí)行，大函數(shù)執(zhí)行完成，則整個芯片指令高速緩存進行了遍歷；4、根據(jù)大函數(shù)是否完成即能判斷芯片指令高速緩存是否失效或者異常。本發(fā)明還提供了一種芯片指令高速緩存失效的檢測系統(tǒng)，本發(fā)明提高檢測效率，加快芯片檢測的流通環(huán)節(jié)，省時省力。