本發(fā)明公開了一種預(yù)測元器件失效時(shí)間的方法,該方法的步驟如下:步驟S01:通過加速老化試驗(yàn)得到所述元器件的失效時(shí)間;步驟S02:計(jì)算在所述元器件的估計(jì)失效時(shí)間的統(tǒng)計(jì)學(xué)估值;步驟S03:構(gòu)建加速失效模型;步驟S04:以步驟S01中的所述加速老化試驗(yàn)中的失效時(shí)間驗(yàn)證所述加速失效模型以得到實(shí)際加速失效模型;步驟S05:在恒定應(yīng)力水平下,調(diào)用計(jì)算機(jī)仿真檢測系統(tǒng)對(duì)元器件的可靠性進(jìn)行分析,或調(diào)用視覺檢測系統(tǒng)對(duì)元器件可靠性進(jìn)行分析。
聲明:
“預(yù)測元器件失效時(shí)間的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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