本發(fā)明提供了一種磁盤失效預(yù)測方法、預(yù)測模型訓(xùn)練方法、電子設(shè)備，該磁盤失效預(yù)測方法包括：獲取待預(yù)測磁盤的預(yù)測數(shù)據(jù)集，所述預(yù)測數(shù)據(jù)集包括預(yù)測樣本IO的IO信息和與所述預(yù)測樣本IO相對應(yīng)的SMART信息，其中，所述預(yù)測數(shù)據(jù)集采集于所述待預(yù)測磁盤的緩存盤加速場景；將所述預(yù)測數(shù)據(jù)集輸入至預(yù)先訓(xùn)練好的預(yù)測模型，得出所述待預(yù)測磁盤的預(yù)測結(jié)果。根據(jù)本發(fā)明實施例提供的方案，能夠結(jié)合IO信息和SMART信息，對所有類型的磁盤進行磁盤失效預(yù)測，有效降低了數(shù)據(jù)丟失的風(fēng)險。