一種加熱絲失效條件下對電推進空心陰極的壽命預(yù)測方法,涉及空心陰極檢測技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明是為了解決空心陰極壽命評估困難的問題。本發(fā)明所述的一種加熱絲失效條件下對電推進空心陰極的壽命預(yù)測方法,前期準備中確定模擬實驗的模型基礎(chǔ),獲得模擬實驗元件;模擬實驗中建立加熱絲蒸發(fā)模型,利用該模型對實驗元件進行模擬,獲得模擬壽命;短期實驗中直接對待檢測的加熱絲進行檢測,獲得預(yù)測壽命。本發(fā)明所述的一種加熱絲失效條件下對電推進空心陰極的壽命預(yù)測方法適用于加熱絲的壽命預(yù)測。
聲明:
“加熱絲失效條件下對電推進空心陰極的壽命預(yù)測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)