本發(fā)明公開了一種FPC失效異常的測(cè)試方法,包括步驟:提供一批應(yīng)用FPC的電子模組,對(duì)所述電子模組隨機(jī)抽取樣品;對(duì)所述抽取樣品進(jìn)行品質(zhì)檢測(cè);對(duì)所述抽取樣品進(jìn)行電源開關(guān)沖擊測(cè)試,同時(shí)進(jìn)行高低溫濕熱循環(huán)測(cè)試,所述電源開關(guān)沖擊測(cè)試是對(duì)所述抽取樣品進(jìn)行多次通電斷電循環(huán);所述電源開關(guān)沖擊測(cè)試和高低溫濕熱循環(huán)測(cè)試完畢后,將所述抽取樣品取出,放置在常溫下靜置至少2個(gè)小時(shí);對(duì)所述抽取樣品進(jìn)行品質(zhì)檢測(cè),并記錄檢測(cè)參數(shù)。通過(guò)電源開關(guān)沖擊測(cè)試搭配高低溫濕熱循環(huán)測(cè)試,有效地檢測(cè)出FPC在經(jīng)過(guò)長(zhǎng)期使用后可能產(chǎn)生的問(wèn)題。
聲明:
“FPC失效異常的測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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