本發(fā)明涉及一種考慮IGBT模塊鍵合線失效的壽命預(yù)測方法及系統(tǒng)。該方法包括根據(jù)IGBT模塊的在線監(jiān)測數(shù)據(jù)判斷IGBT模塊的健康狀態(tài);在線監(jiān)測數(shù)據(jù)包括:鍵合線的斷裂條數(shù);當(dāng)IGBT模塊為健康模塊時(shí),直接獲取瞬態(tài)阻抗曲線,并根據(jù)瞬態(tài)阻抗曲線確定RC熱網(wǎng)絡(luò)模型,進(jìn)而進(jìn)行功率循環(huán)實(shí)驗(yàn),實(shí)現(xiàn)壽命預(yù)測;當(dāng)IGBT模塊為老化模塊時(shí),根據(jù)瞬態(tài)熱阻抗測量試驗(yàn)測得IGBT模塊當(dāng)前的瞬態(tài)熱阻抗曲線,并利用當(dāng)前的瞬態(tài)熱阻抗曲線確定當(dāng)前的RC熱網(wǎng)絡(luò)模型,進(jìn)而進(jìn)行功率循環(huán)實(shí)驗(yàn),實(shí)現(xiàn)壽命預(yù)測。本發(fā)明能夠提高IGBT模塊的壽命預(yù)測結(jié)果的準(zhǔn)確性。
聲明:
“考慮IGBT模塊鍵合線失效的壽命預(yù)測方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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