本發(fā)明公開了一種寫失效存儲單元的替換方法、裝置、設備及存儲介質,接收外部的測試機發(fā)送的替換指令和校驗數據;將目標存儲
芯片內的數據與校驗數據相比較,判斷失效的cell;對比較得到的失效的cell進行分析和判別;執(zhí)行替換指令,依次對失效的cell進行替換。將替換指令執(zhí)行的操作交由存儲芯片主控來完成,測試機在這個過程中只需要負責發(fā)送校驗數據和替換指令,以及判斷執(zhí)行結果和固化替換信息,因此測試機在測試過程中的計算量大大減小,相應減小了測試時間,對于需要同步測試多個存儲芯片的測試機來說,測試方的設備要求降低。
聲明:
“寫失效存儲單元的替換方法、裝置、設備及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)