一種計算機系統(tǒng)(300),其根據(jù)測試站產生的失效存儲單元標號信息而自動判定與顯示存儲器IC(集成電路)電路小片放大圖像上的存儲單元陣列中失效的存儲單元的實際位置。標號信息包含任何區(qū)段標號、I/O標號、列標號、與行標號的組合。存儲器IC電路小片包含多個區(qū)段,且區(qū)段標號對應于其中具有失效存儲單元的區(qū)段。區(qū)段包含多個I/O(輸入/輸出)區(qū)域,其中I/O標號指定在具有區(qū)段標號的區(qū)段內、其中具有失效存儲單元的I/O區(qū)域。I/O區(qū)域包含多個水平傳導結構與垂直傳導結構。列標號指定連接至失效存儲單元的垂直傳導結構,且行標號指定連接至失效存儲單元的水平傳導結構,其中I/O區(qū)域具有I/O標號。計算機系統(tǒng)(300)接收標號信息并在計算機系統(tǒng)(300)的GUI(圖形用戶界面)(310)上自動判定與顯示存儲器IC電路小片的第一放大圖像與對應于被突出顯示的區(qū)段標號的區(qū)段、和/或對應于區(qū)段標號的區(qū)段的第二放大圖像與對應于被突出顯示的I/O標號的I/O區(qū)域、和/或對應于I/O標號的I/O區(qū)域的第三放大圖像與對應于被突出顯示的列標號的垂直傳導結構和/或對應于行標號的水平傳導結構的任何組合。
聲明:
“存儲單元陣列中失效存儲單元的實際位置的自動判定與顯示” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)