本發(fā)明實施例公開了一種評估絕緣電阻劣化失效的方法,包括步驟: 在相鄰導(dǎo)體的一個導(dǎo)體兩端施加恒流源;如果在預(yù)設(shè)的時間段內(nèi),所述恒 流源顯示的數(shù)值出現(xiàn)過顯著變化,則指示所述相鄰導(dǎo)體間出現(xiàn)絕緣電阻劣 化失效。還提供了一種評估絕緣電阻劣化失效的裝置和一種評估絕緣電阻 劣化失效的系統(tǒng),利用本發(fā)明實施例,通過測量相鄰導(dǎo)體中其中一根導(dǎo)體 的電阻,如果所述電阻大于預(yù)設(shè)電阻值,則所述相鄰導(dǎo)體間的絕緣電阻劣 化;否則,所述相鄰導(dǎo)體間的絕緣電阻正常??梢詫崿F(xiàn)通過測量漏電流對 于恒流源產(chǎn)生的測試電流的影響,來間接反映出漏電流的大小,進而可以 判斷出表面絕緣電阻是否失效。
聲明:
“評估絕緣電阻劣化失效的方法、裝置和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)