本發(fā)明公開了一種快速篩選
芯片失效風(fēng)險(xiǎn)的方法,把好品周圍芯片的失效率做運(yùn)算再判斷,周邊芯片失效率>87.5%中間的原好品判斷為壞品,一顆好品周圍有8顆芯片,其中失效7或是8顆測(cè)試為壞品,判斷中間好品為壞品,一顆好品周圍有7顆芯片,其中周圍失效7顆,判斷中間好品為壞品;本發(fā)明提供的快速篩選芯片失效風(fēng)險(xiǎn)的方法,將有潛在風(fēng)險(xiǎn)的芯片剔除,保證產(chǎn)品質(zhì)量。
聲明:
“快速篩選芯片失效風(fēng)險(xiǎn)的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)