本發(fā)明公開了一種基于相關(guān)性回歸分析的衛(wèi)星
太陽能電池陣故障數(shù)據(jù)提取方法,屬于衛(wèi)星太陽能電池陣的失效分析技術(shù)領域。本發(fā)明首先對觀測數(shù)據(jù)進行預處理,然后計算相鄰兩天觀測數(shù)據(jù)的一階差分,對預處理后的觀測數(shù)據(jù)進行填補,確定填補后的觀測數(shù)據(jù)的去均值化的觀測數(shù)據(jù)的一階差分;以性能衰減模型擬合最優(yōu)為目標尋找突變點判斷閾值,得到觀測數(shù)據(jù)中的突變點;最后針對所尋找出的突變點觀察原始觀測數(shù)據(jù),對其是否發(fā)生真實失效進行判斷,實現(xiàn)對衛(wèi)星太陽能電池陣故障數(shù)據(jù)提取。本發(fā)明充分利用了遙測觀測數(shù)據(jù),有較高的失效點的檢測率和較低的誤報率;與現(xiàn)有的故障信息提取方法相比,本發(fā)明方法顯著提高了故障數(shù)據(jù)提取的通用性和準確度。
聲明:
“基于相關(guān)性回歸分析的衛(wèi)星太陽能電池陣故障數(shù)據(jù)提取方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)