單個(gè)驗(yàn)證工具提供在統(tǒng)一環(huán)境下為全定制和ASIC設(shè)計(jì)二者既進(jìn)行靜態(tài)時(shí)序分析又進(jìn)行動(dòng)態(tài)仿真的能力。在各個(gè)實(shí)施例中，驗(yàn)證工具包括下述特征：(a)將靜態(tài)時(shí)序分析工具和動(dòng)態(tài)仿真工具結(jié)合到單個(gè)工具；(b)在存在電平敏感鎖存器的情況下，為多相、多頻、多周期電路執(zhí)行有效的路徑搜索；(c)為了時(shí)序特征化，自動(dòng)識(shí)別電路結(jié)構(gòu)，例如，復(fù)合門；(d)通過(guò)結(jié)合功能檢查解決晶體管級(jí)的電路結(jié)構(gòu)；(e)執(zhí)行功能檢查，以過(guò)濾掉失效路徑并識(shí)別具有同步變化的輸入端的門；(f)在過(guò)濾掉錯(cuò)誤路徑之后，在存在電平敏感鎖存器的條件下，找到最大的工作頻率；(g)通過(guò)利用與在spice類仿真器中實(shí)施的時(shí)域的非線性驅(qū)動(dòng)器耦合的頻域中的RLC部分的導(dǎo)納矩陣和電壓傳輸，解決串?dāng)_；(h)使用干擾源和受干擾者的輸入端之間的關(guān)聯(lián)性，以迭代地矀??定受干擾者的輸出端上的切換時(shí)間。