本申請(qǐng)公開了一種故障分析方法、裝置、設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述故障分析方法包括以下步驟：基于云端數(shù)據(jù)庫進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，確定已出現(xiàn)單體電壓不一致現(xiàn)象的故障電池包；將所述故障電池包內(nèi)的荷電狀態(tài)極值單體和健康度極值單體進(jìn)行對(duì)比，根據(jù)對(duì)比結(jié)果確定所述單體電壓不一致現(xiàn)象的產(chǎn)生原因和不一致單體；當(dāng)確定所述產(chǎn)生原因是自放電異常大時(shí)，根據(jù)所述故障電池包內(nèi)各單體的荷電狀態(tài)變化趨勢確定引發(fā)自放電異常大的根因。本申請(qǐng)能夠準(zhǔn)確定位導(dǎo)致單體電壓不一致的失效原因，并簡單便捷地識(shí)別單體自放電異常大的根因，可以快速實(shí)現(xiàn)故障原因的閉環(huán)分析，有助于產(chǎn)品及制程的提升，避免了通過拆解單體進(jìn)行根因分析可能導(dǎo)致的一系列問題。