本發(fā)明涉及一種脈寬調(diào)制器單粒子效應(yīng)時(shí)間敏感特性分析方法,方法包括:對(duì)樣品的各功能模塊進(jìn)行激光脈沖的遍歷式掃描并得到各功能模塊的單粒子效應(yīng)失效模式和單粒子效應(yīng)敏感參數(shù)以及選取各功能模塊的典型入射位置、使激光脈沖以一定的入射周期入射各功能模塊的典型入射位置來(lái)分析獲得各功能模塊的單粒子效應(yīng)時(shí)間敏感性信息、獲取脈寬調(diào)制器的單粒子效應(yīng)時(shí)間敏感特性等步驟。本發(fā)明方法在脈寬調(diào)制器功能模塊劃分的基礎(chǔ)上,結(jié)合激光脈沖的可控掃描和各功能模塊單粒子效應(yīng)敏感參數(shù)提取來(lái)實(shí)現(xiàn)脈寬調(diào)制器單粒子效應(yīng)時(shí)間敏感特性分析,方法新穎,是重離子單粒子效應(yīng)地面模擬試驗(yàn)的重要補(bǔ)充,為較復(fù)雜數(shù)模混合電路的單粒子效應(yīng)時(shí)間敏感特性研究提供支撐。
聲明:
“脈寬調(diào)制器單粒子效應(yīng)時(shí)間敏感特性分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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