本申請(qǐng)公開(kāi)一種精密檢測(cè)裝置和精密檢測(cè)裝置制造方法,其中精密檢測(cè)裝置包括:測(cè)桿,用于通過(guò)觸碰的方式檢測(cè)與待測(cè)對(duì)象之間的微間距;觸感反饋組件,用于將所述微間距信息進(jìn)行反饋;復(fù)位組件,用于當(dāng)所述測(cè)桿與待測(cè)對(duì)象之間為非接觸狀態(tài)時(shí),將所述測(cè)桿進(jìn)行復(fù)位;其中,所述復(fù)位組件包括至少兩個(gè)磁體。復(fù)位組件包括的至少兩個(gè)磁體通過(guò)磁力復(fù)位而不是機(jī)械復(fù)位,可以防止復(fù)位卡頓,從而可以防止精密檢測(cè)裝置復(fù)位失效。
聲明:
“精密檢測(cè)裝置、刀具輔件及其制造方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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