本實(shí)用新型提供一種檢測(cè)電路、陣列基板、顯示裝置,用于解決現(xiàn)有技術(shù)中的檢測(cè)電路中連接線(xiàn)在過(guò)孔之間的爬坡處膜質(zhì)較差的問(wèn)題。本實(shí)用新型提供的檢測(cè)電路、陣列基板、顯示裝置,由于第一過(guò)孔和第二過(guò)孔距離較遠(yuǎn),在制作連接線(xiàn)時(shí),例如,沉積氧化銦錫(ITO)作為連接線(xiàn)時(shí),ITO爬坡處膜質(zhì)比較好,有電流通過(guò)時(shí),不容易發(fā)生ITO燒斷的現(xiàn)象,導(dǎo)致檢測(cè)失效。
聲明:
“檢測(cè)電路、陣列基板、顯示裝置” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)