本申請公開了一種存儲器檢測方法及其裝置,該方法包括:初始化存儲單元陣列中的全部存儲單元;確定若干條目標(biāo)字線,相鄰的兩條目標(biāo)字線之間具有若干條干擾字線;開啟目標(biāo)字線,對目標(biāo)字線連接的存儲單元執(zhí)行寫入操作;對干擾字線進(jìn)行若干次反復(fù)開啟和關(guān)斷;對目標(biāo)字線連接的存儲單元執(zhí)行讀取操作;其中,采用強(qiáng)制灌電流的方式,對干擾字線連接的存儲單元執(zhí)行寫入操作。該檢測方法可以放大存在潛在泄漏或短路的兩條相鄰字線漏電的電壓差,從而檢測出由于工藝制程差異導(dǎo)致兩個存儲單元的部分靠在一起而產(chǎn)生的雙存儲單元失效,從而可避免產(chǎn)品良率降低。
聲明:
“存儲器檢測方法及其裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)