本實用新型涉及一種可控硅檢測電路,包括一驅(qū)動電路、一反饋電路和一單片機(jī),該驅(qū)動電路和該反饋電路分別連接該單片機(jī),該反饋電路還連接到該單片機(jī),該驅(qū)動電路接收單片機(jī)提供的控制信號,并輸出對應(yīng)的反饋信號至該反饋電路,該反饋電路對該反饋信號進(jìn)行處理后輸出至該單片機(jī),該單片機(jī)根據(jù)接收到的處理后的反饋信號波形變化檢測該驅(qū)動電路中可控硅是否失效。
聲明:
“可控硅檢測電路” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)