一種三態(tài)內(nèi)容可尋址存儲(chǔ)器的測(cè)試電路,包括掃描鏈、向量生成電路、TCAM陣列模塊、優(yōu)先級(jí)編碼器、測(cè)試結(jié)果分析電路和修復(fù)電路,掃描鏈將測(cè)試圖形輸入到優(yōu)先級(jí)編碼器輸入端,向量生成電路提供各種測(cè)試圖形給TCAM陣列和優(yōu)先級(jí)編碼器,測(cè)試結(jié)果分析電路通過分析優(yōu)先級(jí)編碼器的輸出信號(hào)來完成測(cè)試和故障定位,修復(fù)電路則根據(jù)向量分析電路得出的故障定位信息來修復(fù)失效的單元。本發(fā)明還公開了利用上述測(cè)試電路來修復(fù)可尋址存儲(chǔ)器的方法,通過插入向量生成電路,掃描鏈,分析優(yōu)先級(jí)比較器的輸出信號(hào),先后完成優(yōu)先級(jí)比較器測(cè)試,搜索不匹配測(cè)試和搜索匹配測(cè)試,并能對(duì)失效單元進(jìn)行定位,完成電路的修復(fù)。
聲明:
“三態(tài)內(nèi)容可尋址存儲(chǔ)器的測(cè)試電路及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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