本發(fā)明公開了一種單個開關(guān)周期內(nèi)芯片動態(tài)結(jié)溫監(jiān)測系統(tǒng)及監(jiān)測方法，操作步驟如下：(1)、基于開關(guān)特性參數(shù)預(yù)測PWM周期內(nèi)關(guān)斷時刻初始結(jié)溫，用于獲得功率器件在一個開關(guān)周期內(nèi)關(guān)斷時刻初始結(jié)溫Tj_off；(2)、基于電熱模型估計PWM周期內(nèi)關(guān)斷期間的結(jié)溫變化范圍，用于獲得功率器件在一個開關(guān)周期內(nèi)關(guān)斷過程中的結(jié)溫變化范圍ΔTj；(3)、基于熱等效作用的估計功率器件在關(guān)斷期間的最高結(jié)溫，用于獲得功率器件在一個開關(guān)周期內(nèi)關(guān)斷過程中的最高結(jié)溫TMAX。本發(fā)明聚焦功率開關(guān)器件的關(guān)斷過程，為功率開關(guān)器件的失效分析和電?熱管理提供了更精確的動態(tài)結(jié)溫參數(shù)，兼顧安全性和經(jīng)濟效益，是芯片結(jié)溫檢測領(lǐng)域的一條新思路。