本發(fā)明公開(kāi)了一種半導(dǎo)體激光器的工作性能檢測(cè)技術(shù)，具體地說(shuō)是一種半導(dǎo)體激光器的測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法，屬于半導(dǎo)體光電器件的制造技術(shù)領(lǐng)域。它包括待測(cè)光器件以及用于放置待測(cè)光器件的高低溫循環(huán)箱，待測(cè)光器件與一個(gè)能夠?yàn)榇郎y(cè)光器件提供電流的電流源連接，待測(cè)光器件還與一個(gè)能夠測(cè)試其出光功率的光功率計(jì)連接，電流源和光功率計(jì)的輸出信號(hào)端均連接到一臺(tái)計(jì)算機(jī)上。采用上述的結(jié)構(gòu)和方法后，可以方便、有效、迅速地進(jìn)行檢測(cè)，預(yù)先判定一個(gè)激光器的工作穩(wěn)定性和失效模式，從而大大縮短了檢驗(yàn)的周期和降低了檢驗(yàn)的成本，同時(shí)對(duì)生產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行有效的管控，將產(chǎn)品成本降到最低，同時(shí)保障了客戶(hù)利益，其測(cè)試的方法簡(jiǎn)單方便，測(cè)試系統(tǒng)搭建的成本低。