本發(fā)明公開了一種基于Coffin?Mason的LED引線壽命預(yù)測方法,屬于LED測試技術(shù)領(lǐng)域,在加速壽命實驗中增加功率循環(huán)載荷,通過有限元仿真計算獲取金引線塑性應(yīng)變幅,再結(jié)合溫度與電流加速老化試驗,擬合出樣品的coffin?mason公式,得到引線壽命與引線在不同工作條件下的應(yīng)變幅的關(guān)系曲線,再對不同條件下的樣品進(jìn)行功率循環(huán)仿真計算得到應(yīng)變幅,再根據(jù)公式預(yù)測出引線的實際壽命。本發(fā)明可實現(xiàn)對不同工作條件下的
芯片在金屬引線疲勞失效方面的壽命預(yù)測;預(yù)測壽命效率高,預(yù)測準(zhǔn)確性高,引入功率循環(huán)供電因素,提高了老化實驗以及預(yù)擬合壽命預(yù)測經(jīng)驗公式的效率。
聲明:
“基于Coffin?Mason的LED引線壽命預(yù)測方法及測試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)