本發(fā)明公開了一種天線罩插入相位延遲測(cè)量方法，屬于微波測(cè)量領(lǐng)域，該方法包括調(diào)整兩個(gè)點(diǎn)聚焦透鏡天線在天線罩上的焦斑位置相重合且兩者成固定夾角；對(duì)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、點(diǎn)聚焦透鏡天線A、點(diǎn)聚焦透鏡天線B和穩(wěn)相電纜進(jìn)行預(yù)處理；設(shè)定測(cè)量條件下，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量外表面加載金屬反射層的天線罩的焦斑位置的S₂₁參數(shù)相位天線罩位置、設(shè)定測(cè)量條件不變，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量?jī)?nèi)表面加載金屬反射層的天線罩的焦斑位置的S₂₁參數(shù)相位通過插入相位延遲計(jì)算公式獲得插入相位延遲的大??；本方法有效解決了現(xiàn)有透射法存在測(cè)量盲區(qū)以及現(xiàn)有反射法存在無法寬頻測(cè)量、特定頻率測(cè)量失效等問題，提供了一種無盲區(qū)、寬頻帶、高精度天線罩IPD測(cè)量方法，為天線罩IPD逐點(diǎn)精密測(cè)量提供了可行的工程化解決方案。