本發(fā)明公開了一種CT探測(cè)器核心部件的高加速壽命試驗(yàn)方法。本發(fā)明將CT探測(cè)器核心部件放入高加速壽命試驗(yàn)箱中，控制高加速壽命試驗(yàn)箱同時(shí)進(jìn)行溫度、振動(dòng)循環(huán)周期性試驗(yàn)。并通過高低溫循環(huán)變化，逐步增加溫度應(yīng)力系數(shù)。在每個(gè)高溫點(diǎn)向低溫點(diǎn)變化的同時(shí)，振動(dòng)應(yīng)力步進(jìn)增加。在各相應(yīng)時(shí)間點(diǎn)進(jìn)行失效判斷和失效統(tǒng)計(jì)，直到試驗(yàn)樣品全部失效為止，最后進(jìn)行失效分析，鑒定探測(cè)器核心部件的平均無故障工作時(shí)間。本發(fā)明避免了正常壽命試驗(yàn)方法樣機(jī)數(shù)大、耗時(shí)久的缺點(diǎn)，相比普通的高低溫循環(huán)試驗(yàn)、振動(dòng)步進(jìn)試驗(yàn)大大縮短了試驗(yàn)時(shí)間。在短期內(nèi)快速激發(fā)核心部件的潛在故障，為產(chǎn)品的整體設(shè)計(jì)提供全過程技術(shù)支持，有效提高產(chǎn)品的可靠性水平。